美國QUEST(QI2)光學成像系統

簡要描述：美國QUEST(QI2)光學成像系統，非接觸式測量系統
MOI 是一種高效且高效的無損評估 (NDE) 過程，可用于檢測緊固件附近飛機蒙皮的表面和亞表面裂紋，以及亞表面腐蝕

產品型號：MOI +
廠商性質：代理商
更新時間：2024-12-10
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美國QUEST(QI2)光學成像系統，非接觸式測量系統

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光學成像系統MOI +

20 年來，磁光成像 (MOI) 在增加飛機結構的使用和延長壽命方面發揮了關鍵作用。MOI 是一種高效且高效的無損評估 (NDE) 過程，可用于檢測緊固件附近飛機蒙皮的表面和亞表面裂紋，以及亞表面腐蝕。使用渦流激勵，MOI 的快速掃描過程使飛機檢查員能夠觀察更多的缺陷細節，并大大減少所需檢查的停機時間。Qi2 很高興地宣布我們最新的 MOI 系統 MOI+。在我們最新的設計中，我們有

用數字接口取代模擬控制
將平視顯示器（耳機）替換為可連接到成像儀或手持式的 LCD 顯示器
在保持 45 毫米大視野 (FOV) 的同時縮小了成像器尺寸
增加了數字視頻輸出以方便記錄檢查
提高了視頻質量

美國QUEST(QI2)光學成像系統優勢

不需要校準
顯著節省檢查時間
所需的操作員培訓最少
不需要脫漆或去除保護涂層
大面積快速實時檢測
證明比單獨的渦流探頭快 10 倍

特征多頻 (5,10,20,100,150,200kHz)，3 種功率設置，2 種激勵模式成像器內置激勵輕巧緊湊，45 mm FOV 三重顯示和 DVI 輸出更高分辨率的成像和更精細的對比度控制好處檢測表面和亞表面裂紋和腐蝕鐵磁緊固件的檢測減少檢查時間和檢查員疲勞記錄檢查更高質量的圖像，減少